專利授權
| 項目 | 研究所 | 專利名稱 | 國別 | 證書號碼 | 詳細內容 | 聯絡人 |
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輻防所 | X光投影成像裝置 | 中華民國 | 發明第I488612號 | 查看 |
張家豪 #7763 |
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輻防所 | 二維平面造影呈現三維影像的影像重建方法 | 日本 | 特許第4414410號 | 查看 |
倪于晴 #7685 |
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輻防所 | 二維平面造影呈現三維影像的影像重建方法 | 美國 | US7,778,452B2 |
倪于晴 #7685 |
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輻防所 | 二維平面造影呈現三維影像的影像重建方法 | 中華民國 | 發明第I337329號 | 查看 |
倪于晴 #7685 |
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輻防所 | 斷層掃描裝置 | 中華民國 | 發明第I522088號 | 查看 |
張家豪 #7763 |
6 |
輻防所 | 決定晶體穿透效應與偵檢效率以及偵檢效率校正之方法 | 中華民國 | 發明第I400470號 | 查看 |
倪于晴 #7685 |
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輻防所 | 造影系統與造影方法 | 中華民國 | 發明第I661812號 | 查看 |
張家豪 #7763 |
8 |
輻防所 | 造影系統與造影方法 | 美國 | US10,582,898B2 |
張家豪 #7763 |
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9 |
輻防所 | 造影系統與造影方法 | 歐盟 | EP3476296B1 | 查看 |
張家豪 #7763 |
